X射线荧光镀层厚度分析仪基本原理

更新时间：2020-05-23 点击次数：1583次

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分含量的仪器就是X射线荧光分析仪。由原子物理学的知识，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以其*的能量在各自的固定轨道上运行。内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，这时原子被激发了，处于激发态。此时，其他的外层电子便会填补这一空位，即所谓的跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量

上一篇：ROHS检测仪的技术要求及校准方法

下一篇：全自动热裂解脱附仪的特点那么多，你了解多少呢？

返回列表>>