USB应用中的电磁兼容保护设计

USB端口对PC外设的发展起到了革命性的推动作用，并且正变得越来越流行，比如在采集测量数据或在机器上安装软件更新等应用中就非常常见。作为用于数据传输的一种总线系统，只要有移动设备连着的地方就有它的身影。虽然在日常生活中使用的连接器看起来非常结实，但USB应用开发人员仍然必须重视这些接口的保护。

在Intel公司的“高速USB平台设计指南"中，甚至提高了考虑USB端口易感性因素的重要性。Intel建议用电流补偿型扼流圈抑制EMI，再用其它元件防止静电放电(ESD)。电子设备经常会遭受静电放电。静电放电脉冲电压可能高达30kV，因此对所有类型的集成电路来说都是非常危险的。目前有些IC对静电放电来说是“安全的"，但这种安全性只是对一小部分潜在威胁来说是有保证的。日常操作表明：额外保护是的。只有采取外部保护措施才能开发出整块电路板不受静电放电影响以及高度可靠的产品。专门的抑制措施同样也是必需的。无线联网的电子设备如今是遍地开花，它们的数量正在与日俱增。

使自己的产品不受辐射干扰的影响非常重要。只有考虑了预期的干扰形式，才能在设计中及时集成必要的抑制元件，进而缩短开发周期。我们知道，自身产品的辐射型干扰也必须处于某个电平之下。这可以通过EMC测试实验室进行很精确的评估。如果产品没有通过这种测试，那么立马返工的成本将超过抑制元件成本的好几倍。