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X射线荧光光谱仪

X射线荧光光谱仪

型    号: Ux-2900
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Ux-2900能量色散型X射线荧光光谱仪通过中国电子信息标准化研究院(国标起草和制定单位)的严格测评,获得GB/T33352-2016专业级证书。用于RoHS/ELV管控的有害元素铅(Pb),汞(Hg),镉(Cd),铬(Cr),溴(Br)和氯(Cl)的检测,在电子电器、汽车、医疗和包装等行业有着非常广泛的应用

  • 产品描述

全面管控

彻底规避基体效应带来测试误差,真正以全面管控来解决“尽职免责”的问题。

◎快速判定

根据限值要求有3σ值(标准偏差),软件自动完成材料快速筛查,效率提升3-5倍。

 

◎物料异常警示

特有的谱图对比功能,迅速识别同种物料是否发生材质(元素成分)变化。

若未发生变化,可以判断物料成分与之前精测结果*,即可快速通过。

若有变化,可做精确测量并及时通知客户物料发生变化,防止材料改变给产品质量造成影响。

 

Ux-2900能量色散型X射线荧光光谱仪

内置工作曲线

标准配置应对RoHS法规的铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、总铬(Cr)、总溴(Br)和总氯(Cl)六个元素的工作曲线。例如塑胶材料中聚乙烯(PE )、聚氯乙烯(PVC)和工程塑料(ABS)的工作曲线,还包括金属材料中铜合金(Cu )、铝合金(Al )、铁合金(Fe )和锡基合金(Sn )的工作曲线。全面涵盖了电子电气行业的主要测试需求。

★ 塑胶中锑元素工作曲线(选购)

★ 塑胶中锡元素工作曲线(选购)。

 

开放式工作曲线

符合国标要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求,使用标准物质制作工作曲线,应对其他样品的测试。测试条件同样开放,用于设置对应样品的测试需求。

Ux-2900能量色散型X射线荧光光谱仪

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技术参数

★ 型号:Ux-2900

★ 测试元素范围:铝(Al)~铀(U)

★ 符合标准:GB/T 33352-2016专业级认证

★ 测试样品种类:固体、胶体溶液及粉末等

★ 整机分辨率:130±5eV(MnKα)

★ 准直器:Ф10mm和Ф3mm

★ 探测器:Fast SDD

★ 滤光片:5个滤光片(含一个空位)

★ 仪器尺寸:520mm(W)*400mm(D)*355mm(H)

★ 样 品 室 尺 寸:420mm(W) *320mm(D)*65mm(H)

★ 工作环境:温度15-30℃

★ 工作环境相对湿度:≤85%(不结露)

★ 输入电源:AC220V~240V,50/60Hz

★ 额定功率:250W

★ 重量:约37kg

 

辐射安全装置

样品室电子锁

 

辐射安全双重防护:

快门锁 + 电子锁,保证仪器在工作状态和待机状态,都没有X射线泄漏。

完全达到 GB 18871 电离辐射防护与辐射源安全基本标准的要求。

辐射检验报告

辐射安全证书

 

安装位置

仪器安装及使用注意事项

1.仪器到位前请接左图保障仪器使用空间;

 

2.使用环境要求无强电磁干扰,无腐蚀性气体;

 

3.使用温度变化不超过 5℃/小时,湿度保障不结露;

 

4.仪器需要可靠的独立接地,对地电阻至≤4Ω;

 

5.测试小物品时请使用样品杯装置或用麦拉膜封住测试孔,对于样品室进行定期清除,清除时先用胶带把测试孔封住,以保证无异物掉入仪器内部损坏仪器;

 

6.本仪器为辐射装置,切勿通电打开机箱;

 

7.仪器出现故障请及时通知厂家,切勿自行维修造成维保损失;                                                   

 

 

 

 

 

附:XRF光谱仪的性能评价项目及指标要求

 

精密度标准

GB/T33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选用

XRF光谱仪性能要求

1、XRF光谱仪的性能要求 XRF光谱仪的性能评价项目及指标要求中精密度要求(专业级)

聚合物材料

3σ(Pb)≤限值×2.2%(22mg/kg); 3σ (Hg) ≤限值×2.2%(22mg/kg);3σ (Cr) ≤限值×2.2%(22mg/kg);

3σ (Cd) ≤限值×10%(10mg/kg);3σ (Br) ≤限值×5%(15mg/kg)。

2、XRF光谱仪性能评价

精密度指标测试

选用限用物质含量为GB/T 26572-2011中限值要求±15%范围内的标准物质(包括聚合物材料标准物质和金属材料标准物质),使用仪器厂商推荐的测试条件,空气光路,设置单次测试的话时间分别为聚合物材料标准物质不超过100S,金属材料标准物质不超过300S,在样品同一部位连续7次测量铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br) 含量,计算出各自的标准偏差σ。精密度为σ的3倍。

 

仪器的检出限

GB/T33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选用

XRF光谱仪性能要求

1、XRF光谱仪的性能要求 XRF光谱仪的性能评价项目及指标要求中检出限的要求(专业级)

聚合物材料标准物质中的
各限用物质LOD≤限值×2.5%

(Pb)≤限值×2.5%(25mg/kg); (Cd) ≤限值×2.5%(25mg/kg);(Hg) ≤限值×2.5%(25mg/kg);

(Cr) ≤限值×2.5%(25mg/kg);(Br) ≤限值×2.5%(7.5mg/kg)。

金属材料标准物质中的
各限用物质LOD≤限值×10%

(Pb) ≤限值×10%(100mg/kg);(Hg) ≤限值×10%(100mg/kg);(Cd) ≤限值×10%(100mg/kg);

(Cr) ≤限值×10%(100mg/kg)。

2、XRF光谱仪性能评价方法

检出限指标测试
选取空白物质(包括聚合物材料空白物质和金属材料空白物质),使用仪器厂商推荐的测试条件,设置单次测试的话时间分别为聚合物材料标准物质不超过100S,金属材料标准物质不超过300S,在样品同一部位连续7次测量铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)、溴(Br) 含量,计算出各自的检出限。LOD=3σ。

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