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色散X射线荧光光谱仪

更新时间:2021-12-21

简要描述:

色散X射线荧光光谱仪的产生原理

X射线管发出X射线照射样品,样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线,各元素具有特定的波长(能量)。因此,通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外,荧光X射线的强度与浓度具有函数关系,检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。

型号:EDX-8000厂商性质:生产厂家浏览量:388

色散X射线荧光光谱仪

1.概要 本规格书为使用 X 射线荧光分析法的能量色散型 X 射线荧光分析装置的说明。该装置具有以下特点: (1)搭载了无需液氮的 SDD 检测器,灵敏度高,分析速度快。 (2)考虑到分析通用性,搭载了标配准直器和样品观察摄像头。 (3)搭载 5 种滤光片,从轻元素到重元素,可进行高灵敏度分析(其中一种为 EDX-7000/8000 采用的滤光片,使以往分析困难的 Pd, Ru, Rh 等元素的分析成为可能)。 (4)搭载标准软件:操作简便,初次使用人员也可进行简单分析的软件(PCEDX-Navi)和以往通用 分析软件(PCEDX-Pro)。 (5)完善了无需标样的定量分析方法--定性定量分析法(FP 法),标配搭载背景 FP 法,该方法可以提 高不规则有机物样品和微小样品的定量分析精确度。 (6)紧凑的机体上拥有 300(W)×275(D)×约 100(H)mm 的大型样品室,从大型样品到微小样品,可 以灵活应对。 2.构成 本装置由以下 5 部分构成: (1)X射线发生部 ……………该部为激发样品中的原子产生一次X射线的部分。由X射线管、X射线 电源、一次X射线滤光片构成。 (2)检 测 器……………… 装有检测荧光X射线的半导体检测器、检测器高压电源和前置放大器 等。 (3)计数・控制部 …………… 计数部由 MCA(多通道分析仪)等构成。控制部内置计算机,控制 系统整体。 (4)样品室・检测室部 ……… 该部分为大型样品室。与真空/氦气置换以及调整钮的选购件组合 后,可提高轻元素的分析灵敏度和多样品连续分析的分析效率。 (5)PCEDX 软件……… 进行主机控制和定性・定量分析的操作。 3.标准构成 3.1 X 射线发生部 (1)X 射线管............................................................................................................................................... 1 套 (2)X 射线电源........................................................................................................................................... 1 套 (3)X 射线一次滤光片.. ........................................................................................................................... 1 套 3.2 检测器 (1)半导体检测器.......... ........................................................................................................................... 1 套 3.3 计数・控制部 (1)计数・控制部...................................................................................................................................... 1 套 3.4 样品室・检测室部 (1)样品室・检测室.................................................................................................................................. 1 套 3.5 EDX 软件(参照附件规格表).................................................................................................... 1 套 3.6 标准配件 .......................................................................................................................................... 1 套 3.7 使用说明说...................................................................................................................................... 1 套 /11S142-0434B 2

4.详细规格 4.1 X 射线发生部 (1) X 射线管 样 式 侧窗、额定连续功率 50W Rh 靶 冷却方式 空冷(带风扇) (2) X 射线电源 电压 4 ~ 50kV、步进 1kV 电流 1 ~ 1000μA、步进 1μA  输出稳定性 ±0.5% 电路保护 检测过电压、过电流、过负荷、微放电 防 X 射线泄漏联锁装置 按键开关 X 射线发生有效/无效控制 (3) 警告显示 后部警告显示灯 发生 X 射线时亮灯 (4) X 射线一次滤光片 5 种自动切换 #1 17~25keV 范围内有效(元素示例 40Zr, 42Mo, 44Ru, 45Rh,  48Cd) #2 2~5keV 范围内有效(元素示例 17Cl, 24Cr) #3 5~7keV 范围内有效(元素示例 24Cr) #4 5~13keV 范围内有效(元素示例 80Hg, 82Pb, 83Bi, 35Br) #5 21~24keV(5~13keV)范围内有效 ( 元素示例 80Hg, 82Pb, 35Br,  48Cd) (5) 准直器 4 种自动切换 1mm, 3mm, 5mm, 10mmφ 4.2 检测器 (1) 检测器 样式 硅漂移探测器 冷却方式 电子制冷(无需液氮) 检测范围 Na – U (EDX-7000)、C – U (EDX-8000/8100) 4.3 计数・控制部  (1) 计数部 波形整形 数字处理(梯形滤光片) 检测范围 0~20,0~40(keV) 通道数量 2048ch 计数 2 32 - 1 / ch (2) 控制部 控制対象 X 射线发射部(X 射线电源、遮光器・滤光器、准直器)、检测器、


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