关于集成电路的电磁兼容测试

集成电路电磁兼容的标准化 

由于集成电路的电磁兼容是一个相对较新的学科，尽管对于电子设备及子系统已经有了较具体的电磁兼容标准，但对于集成电路来说其测试标准却相对滞后。国际电工委员会第47A技术分委会(IEC SC47A)早在1990年就开始专注于集成电路的电磁兼容标准研究。此外，北美的汽车工程协会也开始制定自己的集成电路电磁兼容测试标准SAE J 1752，主要是发射测试的部分。1997年，IEC SC47A下属的第九工作组WG9成立，专门负责集成电路电磁兼容测试方法的研究，参考了各国的建议，至今相继出版了150kHz－1GHz的集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。此外，在脉冲抗扰度方面，WG9也正在制定对应的标准IEC62215。 

目前，IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试，包括以下六个部分： 

第一部分：通用条件和定义(参考SAE J1752.1)； 
第二部分：辐射发射丈量方法——TEM小室法(参考SAE J1752.3)； 
第三部分：辐射发射丈量方法——表面扫描法(参考SAE J1752.2)； 
第四部分：传导发射丈量方法——1Ω/150Ω直接耦正当； 
第五部分：传导发射丈量方法——法拉第笼法WFC(workbench faraday cage)； 
第六部分：传导发射丈量方法——磁场探头法。 

IEC62132标准，用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试，包括以下五部分： 

第一部分：通用条件和定义； 
第二部分：辐射抗扰度丈量方法—— TEM小室法 ； 
第三部分：传导抗扰度丈量方法——大量电流注进法(BCI) ； 
第四部分：传导抗扰度丈量方法——直接射频功率注进法(DPI) ； 
第五部分：传导抗扰度丈量方法——法拉第笼法(WFC)。 

IEC62215标准，用于集成电路脉冲抗扰度测试，包括以下三部分，但尚未正式出版： 

第一部分：通用条件和定义； 

第二部分：传导抗扰度丈量方法——同步脉冲注进法 ； 
第三部分：传导抗扰度丈量方法——随机脉冲注进法参考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。 

下文主要针对IEC61967 和IEC62132的测试方法进行讲解。