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关于集成电路的电磁兼容测试

更新时间:2023-10-23      点击次数:445

集成电路电磁兼容的标准化 

由于集成电路的电磁兼容是一个相对较新的学科,尽管对于电子设备及子系统已经有了较具体的电磁兼容标准,但对于集成电路来说其测试标准却相对滞后。国际电工委员会第47A技术分委会(IEC SC47A)早在1990年就开始专注于集成电路的电磁兼容标准研究。此外,北美的汽车工程协会也开始制定自己的集成电路电磁兼容测试标准SAE J 1752,主要是发射测试的部分。1997年,IEC SC47A下属的第九工作组WG9成立,专门负责集成电路电磁兼容测试方法的研究,参考了各国的建议,至今相继出版了150kHz-1GHz的集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。此外,在脉冲抗扰度方面,WG9也正在制定对应的标准IEC62215。 

目前,IEC61967标准用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试,包括以下六个部分: 

第一部分:通用条件和定义(参考SAE J1752.1); 
第二部分:辐射发射丈量方法——TEM小室法(参考SAE J1752.3); 
第三部分:辐射发射丈量方法——表面扫描法(参考SAE J1752.2); 
第四部分:传导发射丈量方法——1Ω/150Ω直接耦正当; 
第五部分:传导发射丈量方法——法拉第笼法WFC(workbench faraday cage); 
第六部分:传导发射丈量方法——磁场探头法。 

IEC62132标准,用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试,包括以下五部分: 

第一部分:通用条件和定义; 
第二部分:辐射抗扰度丈量方法—— TEM小室法 ; 
第三部分:传导抗扰度丈量方法——大量电流注进法(BCI) ; 
第四部分:传导抗扰度丈量方法——直接射频功率注进法(DPI) ; 
第五部分:传导抗扰度丈量方法——法拉第笼法(WFC)。 

IEC62215标准,用于集成电路脉冲抗扰度测试,包括以下三部分,但尚未正式出版: 

第一部分:通用条件和定义; 

第二部分:传导抗扰度丈量方法——同步脉冲注进法 ; 
第三部分:传导抗扰度丈量方法——随机脉冲注进法参考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。 

下文主要针对IEC61967 和IEC62132的测试方法进行讲解。 

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